Автоматизированное тестовое оборудование AIDA - АО НПП «АМЭ»

Установка АТО AIDA – это автоматизированное тестовое оборудование, предназначенное для контроля работоспособности, диагностирования и локализации неисправностей в цифро-аналоговых устройствах различного назначения, ВЧ и СВЧ радиоэлектронных модулей на этапах ввода и эксплуатации аппаратуры.

АТО AIDA обеспечивает:

  • проверку работоспособности внешних приборов;
  • возможность программирования;
  • создание сигналов воздействия;
  • регистрацию, отображение и сравнение данных, поступающих с внешних приборов;
  • снятие и накопление эталонной базы данных;
  • выявление неисправности с помощью алгоритма обратного прохода и тест — сценария;
  • сравнение получаемой информации с эталонной;
  • разработку сценариев поиска неисправностей в объекте диагностики (ОД) с использованием внешних приборов;
  • моделирование ОД в программах OrCAD, WaveFormer и ModelSim.

АТО AIDA

Установка автоматизированного тестового оборудования AIDA

Установка АТО AIDA предназначена для тестирования цифро-аналоговых схем, ВЧ и СВЧ радиоэлектронных модулей и выявления неисправности с точностью до элемента.

 

Аппаратная часть установки состоит из подсистем, работающих под управлением внешней ПЭВМ, и выполнена по модульному принципу, который позволяет наращивать и изменять набор функциональных параметров оборудования.

 

Объект диагностики, тестируемый АТО AIDA, должен удовлетворять следующим требованиям:

  • количество задействованных контактов краевых разъёмов ОД не должно превышать общего количества каналов;
  • уровни сигналов, подаваемых на ОД, должны находиться в диапазоне допустимых значений;
  • мощность, потребляемая ОД, должна находиться в пределах допустимой по каждому программируемому источнику питания постоянного тока.

Установка имеет режим самотестирования с глубиной тестирования до сменного модуля.а

Параметр
Значение
Примечание
Тест-процессор (генератор тест-векторов)
Количество каналов
128
Длительность воздействия одной тестовой последовательности сигналов
Минимум 20 нс
Тактовая частота ТП равна 50 МГц
Объем тестовой ОЗУ
1024 кбит на канал
ОЗУ реакции
1024 кбит на канал
Вход включает двухпороговый компаратор
Фиксированная нагрузка
Параллельное включение сопротивлений:
50 Ом, 100 Ом,
500 Ом, 1 кОм.
Последовательное включение сопротивления: 120 Ом
Может подключаться одновременно к каждому из каналов:
1) Параллельно с выводом «земля»
2) Параллельно с выводом Vcc
3) Последовательно к нагрузке.
Вход/выход. Основной режим
Разработан для тестирования ОД, реализуется на цифровых микросхемах TTL,ECL, CMOS и их комбинациях
Максимальная частота на выходах драйверов
25 МГц
Диапазон напряжений для драйвера
-5В … +6В и 0 … +15В
Разница UH-UL не менее 0,5В и не более 12В
Максимальный ток драйвера
100мА на канал
Точность установки напряжения драйвера
± 100мВ
Минимальное сопротивление нагрузки
30 Ом
Перепад напряжения менее, чем 3В (уровни TTL +0,4В и 3,0В)
Шаг установки напряжения для программируемого драйвера (высокий и низкий уровни)
15 мВ
Сопротивление драйвера в рабочем состоянии
менее чем 30 Ом
Защита от короткого замыкания в каналах
Есть
Функция генерации программируемой формы сигнала
Есть для каждого канала
Частота до 50 кГц
Могут программироваться различные формы сигнала (одиночный импульс, синусоидальная, треугольная, квадратная, прямоугольная, пилообразная). Выходной сигнал синхронизируется с частотой ТП
Диапазон входного напряжения
-6В…+8В
-3В…+14В
Амплитуда сигнала -17В
Программируемые уровни порогов
Есть
Нижний порог не может быть выше, чем верхний порог. Минимальная разница между порогами 200 мВ
Количество порогов чувствительности
2
Шаг установки программируемых порогов
15мВ
Входное сопротивление
100 кОм
Входной гистерезис (высокое и низкое напряжение)
60 мВ
Типовой
Величина сдвига фазы (типовая)
3 нс
Высокий уровень напряжения не должен превышать 2,5 В
Фазовый сдвиг сигнала между контактами
3 нс
Режимы тестирования
Однократный
Последовательность наборов тестирования подается один раз с частотой, определенной пользователем. Одновременно происходит получение реакции, и затем обработка
Однократный с ожиданием события
Последовательность наборов тестирования подается один раз с частотой, определенной пользователем. Одновременно происходит получение реакции. Остановка тестового процессора на определенном такте, все драйверы сохраняют состояние последнего набора. После того, как происходит ожидаемое событие, выполняется следующее:
— продолжение текущего теста;
— переключение на измерение;
— запуск другого теста.
Цикличный
Прогон в цикле одного и того же теста с записью реакции в память, до тех пор, пока не произойдет одна из следующих остановок:
— событие по таймеру программного обеспечения (количество проходов и /или времени);
— триггерное слово;
— сходство реакций;
— остановка программного обеспечения.
Пошаговый
Подача определенного количества тестовых наборов с записью соответствующей реакции в память, переход к другим частям теста.
События, ведущие к остановке:
— триггерное слово;
— событие, сгенерированное программным обеспечением (желаемая реакция, первое расхождение с эталоном);
— остановка программного обеспечения.

АО НПП «АМЭ» готово провести доработку и корректировку комплектации  оборудования исходя из требований и задач Заказчика.

Серийные изделия